Autor: SANZ HERVAS, Alfredo

Título: Desarrollo de un modelo teórico para la interpretación de difractogramas de rayos X de alta resolución

Fecha: 1995

Materia: Sin materia definida

Escuela: E.T.S. DE INGENIEROS DE TELECOMUNICACION

Departamento: TECNOLOGIA ELECTRONICA

Acceso electrónico: http://oa.upm.es/9593/

Director/a(s):

• Director/a: ABRIL DOMINGO, Evaristo José

Resumen: En esta tesis doctoral se desarrolla un modelo de simulación de difractogramas de rayos X de alta resolución. Para ello se ha utilizado la teoría dinámica de difracción y un modelo de elasticidad anisótropa aplicable a cristales con cualquier orientación. El modelo teórico se aplica a la caracterización de estructuras de pozo cuántico múltiple de InGaAs/GaAs sobre sustratos de GaAs con orientación (001) y (111) B. Se demuestra la corrección del modelo de difracción para la caracterización de este tipo de estructuras. Los parámetros estructurales obtenidos concuerdan con los de otras técnicas como fotoluminiscencia, fotocorriente y microscopía electrónica. Se ha hecho un estudio de la relajación en estas estructuras, encontrando un buen ajuste con un modelo de relajación establecido