Tesis:
Contribución al estudio de las irregularidades de baja frecuencia de transistores fet de heteroestructura de AlGaAs/InGaAs
- Autor: BLANCO MOURENZA, Fernando
- Título: Contribución al estudio de las irregularidades de baja frecuencia de transistores fet de heteroestructura de AlGaAs/InGaAs
- Fecha: 1997
- Materia: CIENCIAS TECNOLÓGICAS. Teseo;TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA. Teseo;DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES. Teseo
- Escuela: E.T.S. DE INGENIEROS DE TELECOMUNICACION
- Departamentos: INGENIERIA ELECTRONICA
- Acceso electrónico:
- Director/a 1º: MUÑOZ MERINO, Elías
- Resumen: Investigación sobre el origen y la caracterización de las anomalías de baja frecuencia (por debajo de 1MHZ) en el ruido, transconductancia y conductancia de salida en los Hemts pseudomórficos de AlGaAs/InGaAs. También se realiza un análisis de la capacidad y de las resistencias parásitas. Se estudia la dispersión de la transconductancia con la frecuencia y el ruido para diferentes temperaturas y polarizaciones. Se encuentra que la causa de las anomalías son dos trampas: los centros DX, debidos al dopante y las trampas pseudominoritarias, relacionadas con los estados de la superficie no cubierta con la puerta. Asimismo se proponen modelos que incluyen estos efectos en el circuito equivalente del transistor