Tesis:
Fault detection and isolation via continuous time statistics.
- Autor: CASTILLO LÓPEZ, Angela
- Título: Fault detection and isolation via continuous time statistics.
- Fecha: 2006
- Materia: Sin materia definida
- Escuela: E.T.S. DE INGENIEROS INDUSTRIALES
- Departamentos: MATEMATICA APLICADA A LA INGENIERIA INDUSTRIAL
- Acceso electrónico: http://oa.upm.es/24/
- Director/a 1º: ZUFIRIA ZATARAIN, Pedro José
- Director/a 2º: SANCHEZ MAÑES, Eva María
- Resumen: El problema de detección y diagnóstico de fallos en plantas modeladas mediante sistemas dinámicos en tiempo continuo está siendo tratado mediante distintos procedimientos que en general se pueden clasificar en deterministas y estocásticos. Los métodos que se desarrollan en esta tesis corresponden a la línea estocástica, se basan en el análisis de estadísticos en tiempo continuo, mientras que el esfuerzo en este campo ha estado tradicionalmente orientado al desarrollo y estudio de estadísticos en tiempo discreto. A pesar de que el uso de medios informáticos fuerza la discretización de las señales, resulta más natural abordar el problema de detección y diagnóstico de fallos sobre modelos en tiempo continuo con estadísticos también en tiempo continuo, para conseguir detección y diagnóstico en tiempo real (on-line). Los esquemas de detección y diagnóstico aquí presentados consisten básicamente en la generación de un residuo a partir del modelo del sistema, que se supone disponible, y su análisis posterior. Las herramientas estadísticas usadas para extraer del residuo información sobre el fallo son los contrastes de hipótesis; se pueden construir contrastes diferentes a partir de estadísticos diferentes, dando lugar así a distintos esquemas de detección y diagnóstico, que serán caracterizados desde el punto de vista de su conveniencia para la detección de distintos tipos de fallos. La regla de Bayes, de uso habitual en clasificación de patrones, es de gran ayuda también en una de las fases de diagnóstico, la del aislamiento del fallo. La validación de los métodos presentados viene dada mediante distintos ejemplos de simulación, en particular se estudia el caso de fallos en la fuente de voltaje de un circuito.