Tesis:
Traceable Characterization of Areal Topography of Structured Surfaces using Confocal Microscopy
- Autor: WANG, Chen
- Título: Traceable Characterization of Areal Topography of Structured Surfaces using Confocal Microscopy
- Fecha: 2019
- Materia: Sin materia definida
- Escuela: E.T.S.I. DISEÑO INDUSTRIAL
- Departamentos: INGENIERIA MECANICA,QUIMICA Y DISEÑO INDUSTRIAL
- Acceso electrónico: http://oa.upm.es/57106/
- Director/a 1º: GÓMEZ GARCÍA, Emilio
- Director/a 2º: CAJA GARCÍA, Jesús
- Resumen: Esta tesis doctoral aborda desde un punto de vista analítico y experimental la caracterización de superficies estructuradas a través de parámetros de rugosidad 3D. Incluye modelos novedosos para la determinación de “outliers” y desarrolla un método original para garantizar la trazabilidad de las medidas realizadas mediante microscopía confocal en los ejes X, Y, Z. La validación experimental de los modelos y la metodología propuesta se ha realizado a partir de diferentes ficheros con datos sintéticos elaborados por el National Institute of Standards and Technology (NIST), accesibles a través de internet y también mediante el empleo de patrones físicos calibrados por laboratorios externos. La incertidumbre asociada a los distintos parámetros evaluados, tales como Sa, Sq, Ssk, Sku, St, Sp, Sv…, se ha estimado mediante la aplicación del Método de Monte Carlo a medidas de acabado superficial, y para ello se han tomando en consideración las fuentes de incertidumbre más significativas: cinemáticas, geométricas, ópticas, ambientales… y las debidas a los modelos matemáticos empleados. Los algoritmos de cálculo se han desarrollado en Matlab y su validación se ha realizado utilizando el supercomputador “Magerit” del Centro de Supercomputación y Visualización de la Universidad Politécnica de Madrid. ----------ABSTRACT---------- This PhD thesis addresses, from an analytical and experimental point of view, the characterization of structured surfaces through 3D roughness parameters. The thesis includes novel models for the determination of outliers and develops an original method to ensure the traceability of the measurements made by confocal microscopy in the X, Y, Z axes. The experimental validation of the models and the proposed methodology has been made from different files with synthetic data provided by the National Institute of Standards and Technology (NIST), available on its Website, and also through the use of physical standards calibrated by external laboratories. The uncertainties associated with the different parameters evaluated, such as Sa, Sq, Ssk, Sku, St, Sp, Sv..., have been estimated by applying the Monte Carlo Method to surface finish measurements. For this, the most significant sources of uncertainty: kinematic, geometric, optical, environmental... and those due to the mathematical models used, have been taken into account. The calculation algorithms have been developed in Matlab and their validation have been carried out using the supercomputer “Magerit” of the Centro de Supercomputación y Visualización of the Universidad Politécnica de Madrid.